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300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

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300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

发布用户:Bgjy 时间:2021-09-17 17:29

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,

把被测物测试所需要之参数数据设定:

安全要点非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

检查电源线是否接触良好;检查后面板上的电源开关是否已经打开

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

误差:±0.2%读数±2字

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器.

四探针电阻率检测仪步骤及流程开启电源,预热5分钟.装配好探头和测试平台.设定所需参数.测量样品导出数据.

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

接口:可选择“USB"和“232"两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻",则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料"则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。

工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。

待参数设置完毕,开始测量,把测试获得的数据写入试验报告中

导电电阻率测试仪满足:YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法 第6部分 粉末电阻率的测定

测试功能:可选择:“RρK"(显示电阻,电阻率,电导率),“R"(只显示电阻),“ρ"(只显示电阻率,“K"(只显示电导率)3种显示模式。

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

电流测量:本仪器采用先进芯片技术,可通过调节硅材料厚度,仪器可直接锁定电流,使测量使用更加简便准确,本仪器可根据需要配备测试平台, 利用测试平台可以测试薄片电阻率

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。

抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

测量误差±5%测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm

GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

电 阻:1×10-5~2×105Ω

接口:可选择“USB"和“232"两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

测试工作站工作位置工作站的位置选择安排在一般人员非必经的处所,使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时,将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站"。如果工作站与其它作业站非常接时,特别注意安全的问题。在测试时标明“测试执行中,非工作人员请勿靠"

试样固定住后,加压探头探针至被测样品表面,带数据稳定后读数.

分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV

以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针方阻测试步骤上述步骤中1项,使用前期准备

分辨率: 小1μΩ

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

一般目前的四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,zui常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

300C低电阻及电阻率测试仪厂家北海

误差:±0.2%读数±2字

以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针方阻测试步骤上述步骤中1项,使用前期准备

仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象

探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距"按“设置"键进入,通过面板上面的“数字"按键输入数据按“确定"键进行确认;按照以上方法和步骤设定"厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。

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